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簡(jiǎn)要描述:SGC-10薄膜測(cè)厚儀大部分,適用于介質(zhì)影響,半導(dǎo)體強化意識,薄膜濾波器和液晶等薄膜和涂層的厚度測(cè)量集聚效應。該薄膜測(cè)厚儀貢獻,是我公司與美國(guó)new-span公司合作研制的,采用new-span公司*的薄膜測(cè)厚技術(shù)提升,基于白光干涉的原理來測(cè)定薄膜的厚度和光學(xué)常數(shù)(折射率n持續,消光系數(shù)k)。它通過分析薄膜表面的反射光和薄膜與基底界面的反射光相干形成的反射譜,用相應(yīng)的軟件來擬合運(yùn)算高品質,得到單層或多層膜系各層的厚度d,折射率n互動講,消光系數(shù)